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International Journal of McLuhan Studies 2012-2013

Education Overload. From Total Surround to Pattern Recognition

International Journal of McLuhan Studies 2012-2013

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Education Overload. From Total Surround to Pattern Recognition


Education Overload. From Total Surround to Pattern Recognition

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Education Overload. From Total Surround to Pattern Recognition

Datos del producto

Editorial: EDITORIAL UOC, S.L.
ISBN: 9788490644744
Publicación: 12/2013
Formato: EBOOK PDF
DRM:
Idioma: Inglés

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